Hochschulschrift
Kurzzeitspektroskopie an Photodetektoren aus Si, InP und YBa2Cu3O7-x
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
III, 110, VIII S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Köln, Univ., Diss., 1996
- Schlagwort
-
Siliciumhalbleiter
Cobaltsilicide
Vergrabene Schicht
Photodetektor
Ultrakurzer Lichtimpuls
Indiumphosphid
Photodetektor
Ultrakurzer Lichtimpuls
Yttriumverbindungen
Bariumverbindungen
Cuprate
Hochtemperatursupraleiter
Photodetektor
Ultrakurzer Lichtimpuls
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:24 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
Ähnliche Objekte (12)
Kurzzeitspektroskopie an Photodetektoren aus Si, InP und YBa2Cu3O7-x
Spektroskopie an Grenzflächen zwischen Silicium und YBa2Cu3O7-x : die Systeme Si/YBa2Cu3O7-x' Si/SiO2/YBa2Cu3O7-x und Si/CaF2/YBa2Cu3O7-x
Heteroepitaxie von InP auf Si(001)
Herstellung und Untersuchung des YBa2Cu3O7-δ/a-Si-Supraleiter/Halbleiter-Kontaktes [YBa2Cu3O7-delta/a-Si-Supraleiter/Halbleiter-Kontaktes
Magnetometer aus YBa2Cu3O7
Einkristallzüchtung und Charakterisierung von YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta]
Hochfrequenzeigenschaften supraleitender YBa2Cu3O7-δ-Dünnschichten [YBa2Cu3O7-delta-Dünnschichten]
Supraleitende Quanteninterferometer aus YBa2Cu3O7
Präparation und supraleitende Eigenschaften von YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta]/ Y0.3Pr0.7Ba2Cu3O7-δ [Y0.3Pr0.7Ba2Cu3O7-delta]/ YBa2Cu3O7-δ-Josephson-Kontakten [YBa2Cu3O7-delta-Josephson-Kontakten]
Winkelaufgelöste Photoelektronenspektroskopie an YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta] (001)Spaltflächen
Ramanspektroskopie an Oberflächenphononen von InP(110) und Si(001)-Sb
Integrierte Mehrschleifen-Magnetometer aus YBa2Cu3O7
Kurzzeitspektroskopie an Photodetektoren aus Si, InP und YBa2Cu3O7-x
Spektroskopie an Grenzflächen zwischen Silicium und YBa2Cu3O7-x : die Systeme Si/YBa2Cu3O7-x' Si/SiO2/YBa2Cu3O7-x und Si/CaF2/YBa2Cu3O7-x
Heteroepitaxie von InP auf Si(001)
Herstellung und Untersuchung des YBa2Cu3O7-δ/a-Si-Supraleiter/Halbleiter-Kontaktes [YBa2Cu3O7-delta/a-Si-Supraleiter/Halbleiter-Kontaktes
Magnetometer aus YBa2Cu3O7
Einkristallzüchtung und Charakterisierung von YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta]
Hochfrequenzeigenschaften supraleitender YBa2Cu3O7-δ-Dünnschichten [YBa2Cu3O7-delta-Dünnschichten]
Supraleitende Quanteninterferometer aus YBa2Cu3O7
Präparation und supraleitende Eigenschaften von YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta]/ Y0.3Pr0.7Ba2Cu3O7-δ [Y0.3Pr0.7Ba2Cu3O7-delta]/ YBa2Cu3O7-δ-Josephson-Kontakten [YBa2Cu3O7-delta-Josephson-Kontakten]
Winkelaufgelöste Photoelektronenspektroskopie an YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta] (001)Spaltflächen
Ramanspektroskopie an Oberflächenphononen von InP(110) und Si(001)-Sb
Integrierte Mehrschleifen-Magnetometer aus YBa2Cu3O7
Kurzzeitspektroskopie an Photodetektoren aus Si, InP und YBa2Cu3O7-x
Spektroskopie an Grenzflächen zwischen Silicium und YBa2Cu3O7-x : die Systeme Si/YBa2Cu3O7-x' Si/SiO2/YBa2Cu3O7-x und Si/CaF2/YBa2Cu3O7-x
Heteroepitaxie von InP auf Si(001)
Herstellung und Untersuchung des YBa2Cu3O7-δ/a-Si-Supraleiter/Halbleiter-Kontaktes [YBa2Cu3O7-delta/a-Si-Supraleiter/Halbleiter-Kontaktes
Magnetometer aus YBa2Cu3O7
Einkristallzüchtung und Charakterisierung von YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta]
Hochfrequenzeigenschaften supraleitender YBa2Cu3O7-δ-Dünnschichten [YBa2Cu3O7-delta-Dünnschichten]
Supraleitende Quanteninterferometer aus YBa2Cu3O7
Präparation und supraleitende Eigenschaften von YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta]/ Y0.3Pr0.7Ba2Cu3O7-δ [Y0.3Pr0.7Ba2Cu3O7-delta]/ YBa2Cu3O7-δ-Josephson-Kontakten [YBa2Cu3O7-delta-Josephson-Kontakten]
Winkelaufgelöste Photoelektronenspektroskopie an YBa2Cu3O7-δ [YBa2Cu3O7-delta] (001)Spaltflächen
Ramanspektroskopie an Oberflächenphononen von InP(110) und Si(001)-Sb