Hochschulschrift
Characterisation of thin SiC films and low dimensional structures in SiC using advanced transmission electron microscopy
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
77 Bl., 166 S. in getr. Zählung
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Enth. 17 Sonderabdr. aus verschiedenen Zeitschr.
Jena, Univ., Habil.-Schr., 2002
- Keyword
-
Siliciumcarbid
Dünne Schicht
Nanostruktur
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 1:55 PM CEST
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Object type
- Hochschulschrift
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