Single electron counting statistics for atto-Ampere currents through a semiconductor quantum dot

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Hohls, F.; Fricke, C.; Wegscheider, W.; Haug, R.J.: Single electron counting statistics for atto-Ampere currents through a semiconductor quantum dot. In: AIP Conference Proceedings 922 (2007), S. 212-215. DOI: https://doi.org/10.1063/1.2759669

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2007
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2007

DOI
10.15488/2821
URN
urn:nbn:de:101:1-2020061208375019073530
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:49 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2007

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