- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2005
- Identifier
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975881876
Thema
Silicium ; Kristallfläche ; Nucleinbasen ; Schwingungsspektroskopie ; Ellipsometrie; Grenzfläche; Infrarot-Reflexionsspektroskopie; Oberflächenverstärkter Raman-Effekt; Organisches Molekül; Rasterkraftmikroskopie; Röntgenbeugung; Hochschulschrift; Online-Publikation
Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
26.01.2023, 13:57 MEZ
Objekttyp
- Monografie
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