EXTENDED MAPTREE: A REPRESENTATION OF FINE-GRAINED TOPOLOGY AND SPATIAL HIERARCHY OF BIM
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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EXTENDED MAPTREE: A REPRESENTATION OF FINE-GRAINED TOPOLOGY AND SPATIAL HIERARCHY OF BIM ; volume:XLII-2/W7 ; year:2017 ; pages:409-415
The International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences ; XLII-2/W7 (2017), 409-415
- Urheber
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Wu, Y.
Shang, J.
Hu, X.
Zhou, Z.
- DOI
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10.5194/isprs-archives-XLII-2-W7-409-2017
- URN
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urn:nbn:de:101:1-201711107947
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:33 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Wu, Y.
- Shang, J.
- Hu, X.
- Zhou, Z.