EXTENDED MAPTREE: A REPRESENTATION OF FINE-GRAINED TOPOLOGY AND SPATIAL HIERARCHY OF BIM

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
EXTENDED MAPTREE: A REPRESENTATION OF FINE-GRAINED TOPOLOGY AND SPATIAL HIERARCHY OF BIM ; volume:XLII-2/W7 ; year:2017 ; pages:409-415
The International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences ; XLII-2/W7 (2017), 409-415

Urheber
Wu, Y.
Shang, J.
Hu, X.
Zhou, Z.

DOI
10.5194/isprs-archives-XLII-2-W7-409-2017
URN
urn:nbn:de:101:1-201711107947
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:33 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Wu, Y.
  • Shang, J.
  • Hu, X.
  • Zhou, Z.

Ähnliche Objekte (12)