Hochschulschrift
Tiefenaufgelöste Röntgenuntersuchungen an epitaktischen Nanometer-Schichten in Silizium
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
124 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1995
- Keyword
-
Silicium
Deltadotierung
Tiefenprofilmessung
Röntgenstrahlung
- Creator
-
Keimel, Josef
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:23 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Keimel, Josef
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