Hochschulschrift

Extrinsische und intrinsische Beeinflussungen des Verhaltens von Siliziumkarbid-Leistungshalbleiterbauelementen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783183419210
Maße
21 cm
Umfang
XIV, 164 Seiten
Ausgabe
Als Manuskript gedruckt
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Illustrationen
Universität Bremen, Dissertation, 2018

Erschienen in
Fortschritt-Berichte VDI / 21 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 419, Reihe 21

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Leistungshalbleiter
Siliciumcarbid
Parasitäres Element
Schaltverhalten
Strommessung
Messwiderstand
Nebenwiderstand
Sperrschicht
Diode
Transistor

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düsseldorf
(wer)
VDI Verlag GmbH
(wann)
2019
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:17 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2019

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