Multifrequency atomic force microscopy for the in-plane and out-of-plane nanomechanical characterization of graphitic surfaces
- Weitere Titel
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Multifrequenz-Rasterkraftmikroskopie für die nanomechanische Charakterisierung von Graphit-Oberflächen senkrecht und parallel zur Probenoberfläche
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Darmstadt, Technische Universität Darmstadt, Dissertation, 2023
- Schlagwort
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Rasterkraftmikroskopie
Grafit
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Darmstadt
- (wer)
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Universitäts- und Landesbibliothek
- (wann)
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2023
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- DOI
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10.26083/tuprints-00023856
- URN
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urn:nbn:de:tuda-tuprints-238563
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 10:45 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Eichhorn, Anna L.
- Dietz, Christian
- Klitzing, Regine von
- Universitäts- und Landesbibliothek
Entstanden
- 2023