Hochschulschrift
Durch Metallisierungen hervorgerufene thermomechanische Spannungen und deren Wirkung auf die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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22 cm
- Extent
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VIII, 155 S.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Duisburg, Essen, Univ., Diss., 2003
- Classification
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Keyword
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Wafer
Metallisieren
Thermomechanische Eigenschaft
Halbleiterbauelement
Elektrische Eigenschaft
Finite-Elemente-Methode
- Creator
- Table of contents
- Rights
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- Last update
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11.03.2025, 11:56 AM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift