Hochschulschrift

Durch Metallisierungen hervorgerufene thermomechanische Spannungen und deren Wirkung auf die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
22 cm
Umfang
VIII, 155 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Duisburg, Essen, Univ., Diss., 2003

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Wafer
Metallisieren
Thermomechanische Eigenschaft
Halbleiterbauelement
Elektrische Eigenschaft
Finite-Elemente-Methode

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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 11:56 MEZ

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Objekttyp

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