Hochschulschrift
Durch Metallisierungen hervorgerufene thermomechanische Spannungen und deren Wirkung auf die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
22 cm
- Umfang
-
VIII, 155 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Duisburg, Essen, Univ., Diss., 2003
- Klassifikation
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Schlagwort
-
Wafer
Metallisieren
Thermomechanische Eigenschaft
Halbleiterbauelement
Elektrische Eigenschaft
Finite-Elemente-Methode
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 11:56 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift