Adapting an XCT-scanner to enable edge illumination X-ray phase contrast imaging

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Adapting an XCT-scanner to enable edge illumination X-ray phase contrast imaging ; volume:28 ; number:3 ; year:2023
E-Journal of nondestructive testing ; 28, Heft 3 (2023)

Urheber
Huyge, Ben
Vanthienen, Pieter-Jan
Six, Nathanaël
Sijbers, Jan
De Beenhouwer, Jan

DOI
10.58286/27755
URN
urn:nbn:de:101:1-2024041112580695420886
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:49 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Huyge, Ben
  • Vanthienen, Pieter-Jan
  • Six, Nathanaël
  • Sijbers, Jan
  • De Beenhouwer, Jan

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