Adapting an XCT-scanner to enable edge illumination X-ray phase contrast imaging
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Adapting an XCT-scanner to enable edge illumination X-ray phase contrast imaging ; volume:28 ; number:3 ; year:2023
E-Journal of nondestructive testing ; 28, Heft 3 (2023)
- Urheber
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Huyge, Ben
Vanthienen, Pieter-Jan
Six, Nathanaël
Sijbers, Jan
De Beenhouwer, Jan
- DOI
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10.58286/27755
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2024041112580695420886
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 10:49 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Huyge, Ben
- Vanthienen, Pieter-Jan
- Six, Nathanaël
- Sijbers, Jan
- De Beenhouwer, Jan