A counter-based read circuit tolerant to process variation for low-voltage operating STT-MRAM

Object Details

• Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Extent: Online-Ressource
• Language: Englisch

Classification and Topics

• Classification: Elektrotechnik, Elektronik

Contributors, Places and Time

• Event: Veröffentlichung
• (where): Kaiserslautern
• (who): Technische Universität Kaiserslautern, Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
• (when): 2016
• Contributor: Umeki, Yohei ; Yanagida, Koji ; Kurotsu, Hiroaki ; Kitahara, Hiroto ; Mori, Haruki ; Izumi, Shintaro ; Yoshimoto, Masahiko ; Kawaguchi, Hiroshi ; Yoshimoto, Shusuke

Further information

• URN: urn:nbn:de:hbz:386-kluedo-43224
• Rights: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
• Last update: 14.08.2025, 10:48 AM CEST