Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Applied Physics Letters, 81, (12), AIP Publishing, ISSN 0003-6951, https://doi.org/10.26083/tuprints-00019886

Event
Veröffentlichung
(where)
Darmstadt
(who)
Universitäts- und Landesbibliothek
(when)
2021
Creator
Fritsche, J.
Schulmeyer, T.
Kraft, D.
Thißen, A.
Klein, Andreas
Jaegermann, Wolfram

DOI
10.26083/tuprints-00019886
URN
urn:nbn:de:tuda-tuprints-198860
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:42 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 2021

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