Hochschulschrift
Zur on-chip Testmustergenerierung für den Elektronenstrahltest
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783181462096
3181462098
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
VIII, 133 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1993
- Erschienen in
-
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 162, Reihe 9
- Reihe
-
Fortschrittberichte VDI : Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik; Nr. 162
- Schlagwort
-
Elektronenstrahltesten
Testmustergenerierung
Integrierte Schaltung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düsseldorf
- (wer)
-
VDI-Verl.
- (wann)
-
1993
- Urheber
-
Gross, Josef (Verfasser)
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 17.02.2026, 12:03 UTC
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Gross, Josef (Verfasser)
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1993
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