Hochschulschrift

Maßnahmen zur Steigerung der Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen auf Gatterebene hinsichtlich Gateoxiddefekten

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Deutsch
Notes
Rostock, Universität Rostock. Fakultät für Informatik und Elektrotechnik, Dissertation, 2014

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
CMOS-Schaltung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Integrierte Schaltung
MOS-FET
CMOS
VHDL

Event
Veröffentlichung
(where)
Rostock
(who)
Universität Rostock
(when)
2015
Creator
Contributor
Timmermann, Dirk
Ortmanns, Maurits
Haubelt, Christian

DOI
10.18453/rosdok_id00001479
URN
urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0029-6
Rights
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:44 PM CET

Data provider

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2015

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