Efficient Defect Identification via Oxide Memristive Crossbar Array Based Morphological Image Processing

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Efficient Defect Identification via Oxide Memristive Crossbar Array Based Morphological Image Processing ; year:2020
Advanced intelligent systems ; (2020)

Urheber
Lee, Hee Sung
Baek, Yongmin
Lin, Qiubao
Minsu Chen, Joseph
Park, Minseong
Lee, Doeon
Kim, Sihwan
Lee, Kyusang

DOI
10.1002/aisy.202000202
URN
urn:nbn:de:101:1-2021020408575279818986
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:28 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Lee, Hee Sung
  • Baek, Yongmin
  • Lin, Qiubao
  • Minsu Chen, Joseph
  • Park, Minseong
  • Lee, Doeon
  • Kim, Sihwan
  • Lee, Kyusang

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