Efficient Defect Identification via Oxide Memristive Crossbar Array Based Morphological Image Processing
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Efficient Defect Identification via Oxide Memristive Crossbar Array Based Morphological Image Processing ; year:2020
Advanced intelligent systems ; (2020)
- Urheber
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Lee, Hee Sung
Baek, Yongmin
Lin, Qiubao
Minsu Chen, Joseph
Park, Minseong
Lee, Doeon
Kim, Sihwan
Lee, Kyusang
- DOI
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10.1002/aisy.202000202
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2021020408575279818986
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:28 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Lee, Hee Sung
- Baek, Yongmin
- Lin, Qiubao
- Minsu Chen, Joseph
- Park, Minseong
- Lee, Doeon
- Kim, Sihwan
- Lee, Kyusang