Understanding the direct detection of charged particles with SiPMs

Object Details

• Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Extent: Online-Ressource, 1 online resource.
• Language: Englisch

References and Relationships

• Bibliographic citation: Understanding the direct detection of charged particles with SiPMs ; volume:138 ; number:4 ; day:18 ; month:4 ; year:2023 ; pages:1-4 ; date:4.2023 ; The European physical journal / Plus. Plus ; 138, Heft 4 (18.4.2023), 1-4, 4.2023

Contributors, Places and Time

• Creator: Carnesecchi, F. ; Vignola, G. ; Agrawal, N. ; Alici, A. ; Antonioli, P. ; Arcelli, S. ; Bellini, F. ; Cavazza, D. ; Cifarelli, L. ; Colocci, M. ; Durando, S. ; Ercolessi, F. ; Ficorella, A. ; Fraticelli, C. ; Garbini, M. ; Giacalone, M. ; Gola, A. ; Hatzifotiadou, D. ; Jacazio, N. ; Margotti, A. ; Malfattore, G. ; Nania, R. ; Noferini, F. ; Paternoster, G. ; Pinazza, O. ; Preghenella, R. ; Rath, R. ; Ricci, R. ; Rignanese, L. ; Rubini, N. ; Sabiu, B. ; Scapparone, E. ; Scioli, G. ; Strazzi, S. ; Tripathy, S. ; Zichichi, A.
• Contributor: SpringerLink (Online service)

Further information

• DOI: 10.1140/epjp/s13360-023-03923-4
• URN: urn:nbn:de:101:1-2023082921200499764755
• Rights: Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
• Last update: 14.08.2025, 10:46 AM CEST