Imaging ultra thin layers with helium ion microscopy: Utilizing the channeling contrast mechanism

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource

Bibliographic citation
Imaging ultra thin layers with helium ion microscopy: Utilizing the channeling contrast mechanism ; volume:3 ; pages:507-512
Beilstein journal of nanotechnology ; 3, 507-512

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

DOI
10.3762/bjnano.3.58
URN
urn:nbn:de:101:1-201210164458
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:36 AM CEST

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Other Objects (12)