Monografie
Test produktionsbedingter Laufzeitfehler in hochintegrierten, digitalen Schaltungen
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Bremen, Univ., Diss., 2003
- Identifier
-
975558234
Thema
Digitale integrierte Schaltung ; Testmustergenerator ; Fehlererkennung ; Verzögerungszeit ; Hochschulschrift; Online-Publikation
Beteiligte Personen und Organisationen
Meyer, Volker Hans-Walther
- URN
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
26.01.2023, 13:57 MEZ
Objekttyp
- Monografie
Beteiligte
- Meyer, Volker Hans-Walther
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