Hochschulschrift | Online-Publikation
Test produktionsbedingter Laufzeitfehler in hochintegrierten, digitalen Schaltungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Bremen, Univ., Diss., 2003
- Klassifikation
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Schlagwort
-
Digitale integrierte Schaltung
Testmustergenerator
Fehlererkennung
Verzögerungszeit
- Urheber
-
Meyer, Volker Hans-Walther
- URN
-
urn:nbn:de:gbv:46-diss000009177
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2055, 13:09 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
Beteiligte
- Meyer, Volker Hans-Walther
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