ICEMS Characterization of NixFe3-xO4 (0.7 ≤ x ≤ 1.7) thin films grown by ion beam sputtering on (0001) Al2O3 substrates

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
1 Online-Ressource.
Sprache
Englisch

Erschienen in
ICEMS Characterization of NixFe3-xO4 (0.7 ≤ x ≤ 1.7) thin films grown by ion beam sputtering on (0001) Al2O3 substrates ; volume:245 ; number:1 ; day:1 ; month:4 ; year:2024 ; pages:1-10 ; date:12.2024
Interactions ; 245, Heft 1 (1.4.2024), 1-10, 12.2024

Urheber
Prieto, P.
Prieto, J. E.
Serrano, A.
Soriano, L.
Figuera, J. de la
Marco, J. F.
Beteiligte Personen und Organisationen
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1007/s10751-024-01897-y
URN
urn:nbn:de:101:1-2408182120178.137698426427
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:54 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte

  • Prieto, P.
  • Prieto, J. E.
  • Serrano, A.
  • Soriano, L.
  • Figuera, J. de la
  • Marco, J. F.
  • SpringerLink (Online service)

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