Hochschulschrift

A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Berlin, Technische Universität Berlin, Dissertation, 2006

Erschienen in
BAM-Dissertationsreihe ; 21

Klassifikation
Naturwissenschaften

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(wann)
2007
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Hellwich, Olaf
Albertz, Jörg
Hohenberg, Heinz
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

URN
urn:nbn:de:kobv:b43-1373
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:50 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Ritter, Martin
  • Hellwich, Olaf
  • Albertz, Jörg
  • Hohenberg, Heinz
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Entstanden

  • 2007

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