Evaluation kommerzieller Werkzeuge zur Diagnose von fehlerhaften Chips

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch

Klassifikation
Informatik
Schlagwort
Chip
Diagnose
Warentest
Testmuster
Fehlererkennung ; Chip

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2008
Urheber
Ostberg, Jan-Peter

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-38319
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:52 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Ostberg, Jan-Peter
  • Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart

Entstanden

  • 2008

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