Hochschulschrift

Verfahren zur elektrischen Defektanalyse

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783183278091
318327809X
Dimensions
21 cm
Extent
XI, 202 S.
Edition
1998
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998

Bibliographic citation
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 278, Reihe 9

Keyword
Halbleitertechnologie
Fehlerortung
Elektrische Messung
Integrierte Schaltung
CAT
Entwurfsautomation

Event
Veröffentlichung
(where)
Düsseldorf
(who)
VDI-Verl.
(when)
1998
Creator

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Last update
11.03.2025, 11:41 AM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 1998

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