Applicability of focused Ion beam (FIB) milling with gallium, neon, and xenon to the fracture toughness characterization of gold thin films
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
-
2044-5326
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
online resource.
- Erschienen in
-
Applicability of focused Ion beam (FIB) milling with gallium, neon, and xenon to the fracture toughness characterization of gold thin films ; day:16 ; month:2 ; year:2021 ; pages:1-10
Journal of materials research ; (16.2.2021), 1-10
- Urheber
-
Preiß, Eva I.
Merle, Benoit
Xiao, Yuan
Gannott, Florentina
Liebig, Jan P.
Wheeler, Jeffrey M.
Göken, Mathias
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
SpringerLink (Online service)
- DOI
-
10.1557/s43578-020-00045-w
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2021040600244667308813
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:50 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Preiß, Eva I.
- Merle, Benoit
- Xiao, Yuan
- Gannott, Florentina
- Liebig, Jan P.
- Wheeler, Jeffrey M.
- Göken, Mathias
- SpringerLink (Online service)
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