Hochschulschrift
Profilanalyse bei der Reflexionselektronenbeugung (RHEED) : elastische und inelastische Streuung
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183197095
318319709X
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
VI, 64 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1994
- Erschienen in
-
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 197, Reihe 9
- Schlagwort
-
Silicium
Molekularstrahlepitaxie
RHEED
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:07 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Müller, Bert
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1994
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