On the Location of Boron in SiO 2 ‐Embedded Si Nanocrystals—An X‐ray Absorption Spectroscopy and Density Functional Theory Study
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
On the Location of Boron in SiO 2 ‐Embedded Si Nanocrystals—An X‐ray Absorption Spectroscopy and Density Functional Theory Study ; day:04 ; month:05 ; year:2021 ; extent:9
Physica status solidi / B. B, Basic solid state physics ; (04.05.2021) (gesamt 9)
- Urheber
- DOI
-
10.1002/pssb.202000623
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2021050515013978385133
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 11:01 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
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Beteiligte
- Hiller, Daniel
- König, Dirk
- Nagel, Peter
- Merz, Michael
- Schuppler, Stefan
- Smith, Sean C.
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