The role of defects in fluorescent silicon carbide layers grown by sublimation epitaxy

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: IOP Conference Series Materials Science and Engineering 56.1 (2014): 01.04.2014

Classification
Physik
Keyword
-

Event
Veröffentlichung
(where)
Erlangen
(who)
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
(when)
2014
Contributor
Schimmel, Saskia
Kaiser, Michl
Jokubavicius, V.
Ou, Y.
Hens, P.
Linnarsson, M. K.
Sun, J.
Liljedahl, R.
Ou, H.
Syväjärvi, M.
Wellmann, Peter

URN
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-44345
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:53 AM CEST

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  • Syväjärvi, M.
  • Wellmann, Peter
  • Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)

Time of origin

  • 2014

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