The role of defects in fluorescent silicon carbide layers grown by sublimation epitaxy
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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In: IOP Conference Series Materials Science and Engineering 56.1 (2014): 01.04.2014
- Classification
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Physik
- Keyword
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- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Erlangen
- (who)
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Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
- (when)
-
2014
- Contributor
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Schimmel, Saskia
Kaiser, Michl
Jokubavicius, V.
Ou, Y.
Hens, P.
Linnarsson, M. K.
Sun, J.
Liljedahl, R.
Ou, H.
Syväjärvi, M.
Wellmann, Peter
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-44345
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:53 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Schimmel, Saskia
- Kaiser, Michl
- Jokubavicius, V.
- Ou, Y.
- Hens, P.
- Linnarsson, M. K.
- Sun, J.
- Liljedahl, R.
- Ou, H.
- Syväjärvi, M.
- Wellmann, Peter
- Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
Time of origin
- 2014