Patchworking the Log-critical locus of planar curves

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Patchworking the Log-critical locus of planar curves ; volume:2022 ; number:792 ; year:2022 ; pages:115-143 ; extent:29
Journal für die reine und angewandte Mathematik ; 2022, Heft 792 (2022), 115-143 (gesamt 29)

Urheber
Lang, Lionel
Renaudineau, Arthur

DOI
10.1515/crelle-2022-0054
URN
urn:nbn:de:101:1-2022110413070877575245
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:26 MESZ

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Beteiligte

  • Lang, Lionel
  • Renaudineau, Arthur

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