Strain-induced doping and zero line mode at the fold of twisted Bernal-stacked bilayer graphene

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Hong, S.J.; Xiao, X.; Wulferding, D.; Belke, C.; Lemmens, P. et al.: Strain-induced doping and zero line mode at the fold of twisted Bernal-stacked bilayer graphene. In: 2D Materials 8 (2021), Nr. 4, 045009. DOI: https://doi.org/10.1088/2053-1583/ac152e

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2021
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2021
Urheber
Hong, Sung Ju
Xiao, Xiao
Wulferding, Dirk
Belke, Christopher
Lemmens, Peter
Haug, Rolf J.

DOI
10.15488/16587
URN
urn:nbn:de:101:1-2024032801152443415177
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:55 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Hong, Sung Ju
  • Xiao, Xiao
  • Wulferding, Dirk
  • Belke, Christopher
  • Lemmens, Peter
  • Haug, Rolf J.
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2021

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