Hochschulschrift | Online-Publikation
Regularisierung des Deflektometrieproblems : Grundlagen und Anwendung
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783866442306
- Maße
-
21 cm, 250 gr.
- Umfang
-
XII, 124 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph Darst.
Hergestellt on demand. - Auch im Internet unter der Adresse http://uvka.ubka.uni-karlsruhe.de/shop/isbn/978-3-86644-230-6 verfügbar
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 2008
- Erschienen in
-
Schriftenreihe automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; Bd. 1
- Schlagwort
-
Oberflächenprüfung
Deflektometrie
Spiegelung
Glanz
Dreidimensionale Rekonstruktion
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Karlsruhe
- (wer)
-
Univ.-Verl. Karlsruhe
- (wann)
-
2008
- Urheber
-
Balzer, Jonathan
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:24 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
Beteiligte
- Balzer, Jonathan
- Univ.-Verl. Karlsruhe
Entstanden
- 2008
Ähnliche Objekte (12)
Werkstoffkunde für Ingenieure : Grundlagen, Anwendung, Prüfung
Regularisierung des Deflektometrieproblems : Grundlagen und Anwendung
E-Learning im Deutschunterricht : Beispiel Telelernen ; Grundlagen und Anwendung
Analyse von Längsschnittdaten mit fehlenden Werten : Grundlagen, Verfahren und Anwendungen
Ionenchromatographische Elementspeziesanalyse des Aluminiums : Grundlagen und Anwendung am Beispiel der Hortensie (Hydrangea macrophylla)
Elementspeziesanalyse des Antimons mittels Ionenchromatographie und Kapillarelektrophorese : Grundlagen und Anwendung am Beispiel der Leishmaniose
Elektronen-Spin-Resonanz-Datierung von Quarz : Grundlagen, Systematik und Anwendungen unter Einbeziehung der Thermolumineszenz
Ultraschnelle Ladungsträgerdynamik in LTG-GaAs und ErAs:GaAs-Übergittern : Grundlagen und Anwendungen
Echtzeitsysteme : Grundlagen der Planung
Das V-Modell XT : Anwendungen, Werkzeuge, Standards
Schalarbeiten : technologische Grundlagen, Sichtbeton, Systemauswahl, Ablaufplanung, Logistik und Kalkulation
Zuverlässigkeit mechatronischer Systeme : Grundlagen und Bewertung in frühen Entwicklungsphasen
Werkstoffkunde für Ingenieure : Grundlagen, Anwendung, Prüfung
Regularisierung des Deflektometrieproblems : Grundlagen und Anwendung
E-Learning im Deutschunterricht : Beispiel Telelernen ; Grundlagen und Anwendung
Analyse von Längsschnittdaten mit fehlenden Werten : Grundlagen, Verfahren und Anwendungen
Ionenchromatographische Elementspeziesanalyse des Aluminiums : Grundlagen und Anwendung am Beispiel der Hortensie (Hydrangea macrophylla)
Elementspeziesanalyse des Antimons mittels Ionenchromatographie und Kapillarelektrophorese : Grundlagen und Anwendung am Beispiel der Leishmaniose
Elektronen-Spin-Resonanz-Datierung von Quarz : Grundlagen, Systematik und Anwendungen unter Einbeziehung der Thermolumineszenz
Ultraschnelle Ladungsträgerdynamik in LTG-GaAs und ErAs:GaAs-Übergittern : Grundlagen und Anwendungen
Echtzeitsysteme : Grundlagen der Planung
Das V-Modell XT : Anwendungen, Werkzeuge, Standards
Schalarbeiten : technologische Grundlagen, Sichtbeton, Systemauswahl, Ablaufplanung, Logistik und Kalkulation
Zuverlässigkeit mechatronischer Systeme : Grundlagen und Bewertung in frühen Entwicklungsphasen
Werkstoffkunde für Ingenieure : Grundlagen, Anwendung, Prüfung
Regularisierung des Deflektometrieproblems : Grundlagen und Anwendung
E-Learning im Deutschunterricht : Beispiel Telelernen ; Grundlagen und Anwendung
Analyse von Längsschnittdaten mit fehlenden Werten : Grundlagen, Verfahren und Anwendungen
Ionenchromatographische Elementspeziesanalyse des Aluminiums : Grundlagen und Anwendung am Beispiel der Hortensie (Hydrangea macrophylla)
Elementspeziesanalyse des Antimons mittels Ionenchromatographie und Kapillarelektrophorese : Grundlagen und Anwendung am Beispiel der Leishmaniose
Elektronen-Spin-Resonanz-Datierung von Quarz : Grundlagen, Systematik und Anwendungen unter Einbeziehung der Thermolumineszenz
Ultraschnelle Ladungsträgerdynamik in LTG-GaAs und ErAs:GaAs-Übergittern : Grundlagen und Anwendungen
Echtzeitsysteme : Grundlagen der Planung
Das V-Modell XT : Anwendungen, Werkzeuge, Standards
Schalarbeiten : technologische Grundlagen, Sichtbeton, Systemauswahl, Ablaufplanung, Logistik und Kalkulation