The Schottky–Mott Rule Expanded for Two-Dimensional Semiconductors: Influence of Substrate Dielectric Screening

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: ACS nano, Band 15, Ausgabe 9, Seite 14794-14803, 2021

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Humboldt-Universität zu Berlin
(wann)
2022
Urheber
Park, Soohyung
Schultz, Thorsten
Shin, Dongguen
Mutz, Niklas
Aljarb, Areej
Kang, Hee Seong
Lee, Chul-Ho
Li, Lain-Jong
Xu, Xiaomin
Tung, Vincent
List-Kratochvil, Emil
Blumstengel, Sylke
Amsalem, Patrick
Koch, Norbert

DOI
10.18452/24563
URN
urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/25236-1
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:21 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Park, Soohyung
  • Schultz, Thorsten
  • Shin, Dongguen
  • Mutz, Niklas
  • Aljarb, Areej
  • Kang, Hee Seong
  • Lee, Chul-Ho
  • Li, Lain-Jong
  • Xu, Xiaomin
  • Tung, Vincent
  • List-Kratochvil, Emil
  • Blumstengel, Sylke
  • Amsalem, Patrick
  • Koch, Norbert
  • Humboldt-Universität zu Berlin

Entstanden

  • 2022

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