Hochschulschrift

Herstellung und Charakterisierung nanokristalliner Siliciumschichten : Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
80 S.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Magdeburg, Univ., Diss., 1995

Keyword
Silicium
Halbleiterschicht
Nanostrukturiertes Material
Elektrische Leitfähigkeit
Optische Eigenschaft

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Last update
11.06.2025, 1:47 PM CEST

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