Hochschulschrift

Die elektrischen und optischen Eigenschaften von Halbleitern bei statistischem Einbau flacher Störstellen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
227, [18], 13 Bl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Berlin, Akad. d. Wiss. d. DDR, Diss. B, 1989 (Nicht f.d. Austausch)

Schlagwort
Gitterfehler
Halbleiter
Elektronische Bauelemente
Festkörper
Gitterbaufehler
Halbleiter
Elektronische Baugruppe
Festkörper

Urheber
Rentzsch, Rolf

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:13 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Rentzsch, Rolf

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