Atomic characterization of Si nanoclusters embedded in SiO2 by atom probe tomography
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
-
1556-276X
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
online resource.
- Erschienen in
-
Atomic characterization of Si nanoclusters embedded in SiO2 by atom probe tomography ; volume:6 ; number:1 ; day:23 ; month:2 ; year:2011 ; pages:1-8 ; date:12.2011
Nanoscale research letters ; 6, Heft 1 (23.2.2011), 1-8, 12.2011
- Urheber
-
Roussel, Manuel
Talbot, Etienne
Gourbilleau, Fabrice
Pareige, Philippe
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
SpringerLink (Online service)
- DOI
-
10.1186/1556-276X-6-164
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2019090119371804534430
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:21 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Roussel, Manuel
- Talbot, Etienne
- Gourbilleau, Fabrice
- Pareige, Philippe
- SpringerLink (Online service)
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