Akten

Planung und Berichte: Band 9

Enthält: Jahresbericht über "Elektronenoptische Defektenanalyse von Werkstoffen und Bauelementen der Elektronik".- Laufende Forschungsaufgaben.- Sozialistische Leistungstätigkeit.- Programm für die Verteidigung von Forschungsaufgaben.- Abstimmungen über Zusammenarbeiter.- Schadendiagnose mit der Rasterelektronenmikroskopie.- Festkörperdiagnostik durch den Einsatz der Hochauflösungselektronenmikroskopie.- Nutzen aus der Zusammenarbeit zwischen dem IFE und Industriebetrieben.- Aktennotize zur Zusammenarbeit.- Einschätzung der Möglichkeiten der Scanning Deep Levels Transient Spectroscopy Methode.- Grobkonzeption zur Sicherung der zukünftigen methodischen Linien und der Gerätetechnik bis 1990.- Längerfristige Vorstellungen zum Bau von PEEM.- Abschlussberichte und Aktennotizen zur verschiedenen Projekten.

Enthält auch: Korrespondenz: Albrecht.- Bethge.- Drahn.- Kirsten.- Peibst.- Schmidt.- Schimko.- Weiland.

Reference number
III. Abt., Rep. 123, Nr. 66

Context
Nachlass Johannes Heydenreich >> Nachlass Johannes Heydenreich >> Institut für Festköreperphysik und Elektronenmikroskopie (IFE) >> Planung und Berichte
Holding
III. Abt., Rep. 123 Nachlass Johannes Heydenreich

Date of creation
1985

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Last update
25.03.2025, 1:13 PM CET

Data provider

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Object type

  • Sachakte

Time of origin

  • 1985

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