Grundlagen der technischen Erkennung

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
22 cm
Extent
342 S.
Edition
1. Aufl.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.

Keyword
Mustererkennung
Technische Erkennung
Graphische Datenverarbeitung
Bildverarbeitung
Erkennung (Kybernetik)
Mustererkennung
Technische Elementarerziehung
Computergrafik
Bildverarbeitung
Eindringerkennung

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Verlag Technik, VEB
(when)
1975
Creator
Peipmann, Rolf

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Rights
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Last update
11.06.2025, 2:05 PM CEST

Data provider

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  • Peipmann, Rolf
  • Verlag Technik, VEB

Time of origin

  • 1975

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