Simulating the onset of damage in DCDC tests using a novel gradient‐extended damage model for tension‐compression asymmetry

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: 10.1002/pamm.202400062

Classification
Elektrotechnik, Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Aachen
(who)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(when)
2024
Creator
Zhang, Jian
Zhang, Qinghua
Reese, Stefanie
Brepols, Tim

DOI
10.18154/RWTH-2024-10629
URN
urn:nbn:de:101:1-2411200044436.303801234574
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:32 AM CEST

Data provider

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Time of origin

  • 2024

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