Modeling and investigating total ionizing dose impact on FeFET

zu Verbundenen Objekten

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: IEEE journal on exploratory solid-state computational devices and circuits 9 (2023), S. 143-150

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2023
Urheber
Sayed, Munazza
Ni, Kai
Amrouch, Hussam

DOI
10.18419/opus-14585
URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-146047
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 11:02 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Sayed, Munazza
  • Ni, Kai
  • Amrouch, Hussam
  • Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart

Entstanden

  • 2023

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