Modeling and investigating total ionizing dose impact on FeFET

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• Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Extent: Online-Ressource
• Language: Englisch

References and Relationships

• Bibliographic citation: In: IEEE journal on exploratory solid-state computational devices and circuits 9 (2023), S. 143-150

Contributors, Places and Time

• Event: Veröffentlichung
• (where): Stuttgart
• (who): Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
• (when): 2023
• Creator: Sayed, Munazza ; Ni, Kai ; Amrouch, Hussam

Further information

• DOI: 10.18419/opus-14585
• URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-146047
• Rights: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.