- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783885853633
3885853639
- Maße
-
25 cm
- Umfang
-
115 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1987
- Schlagwort
-
VLSI
Prüfung
Mikroelektronik
Test (Datenverarbeitung)
Integrierte Schaltungen
Halbleitertechnik
Mikroelektronik
Integrierte Schaltung
Halbleitertechnologie
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Köln
- (wer)
-
Verlag TÜV Rheinland
- (wann)
-
1987
- Urheber
-
Blaschke, Volker
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:13 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Blaschke, Volker
- Verlag TÜV Rheinland
Entstanden
- 1987
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