- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783885853633
3885853639
- Dimensions
-
25 cm
- Extent
-
115 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1987
- Keyword
-
VLSI
Prüfung
Mikroelektronik
Test (Datenverarbeitung)
Integrierte Schaltungen
Halbleitertechnik
Mikroelektronik
Integrierte Schaltung
Halbleitertechnologie
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Köln
- (who)
-
Verlag TÜV Rheinland
- (when)
-
1987
- Creator
-
Blaschke, Volker
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:13 PM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Blaschke, Volker
- Verlag TÜV Rheinland
Time of origin
- 1987
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