A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor ; day:13 ; month:03 ; year:2024 ; extent:9
Advanced functional materials ; (13.03.2024) (gesamt 9)
- Urheber
-
Wang, Lin
Chen, Han
Chen, Mingfeng
Long, Yinfeng
Liu, Kai
Loh, Kian Ping
- DOI
-
10.1002/adfm.202316583
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2024031413043039087275
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 14.08.2025, 11:01 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Wang, Lin
- Chen, Han
- Chen, Mingfeng
- Long, Yinfeng
- Liu, Kai
- Loh, Kian Ping