A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor ; day:13 ; month:03 ; year:2024 ; extent:9
Advanced functional materials ; (13.03.2024) (gesamt 9)
- Creator
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Wang, Lin
Chen, Han
Chen, Mingfeng
Long, Yinfeng
Liu, Kai
Loh, Kian Ping
- DOI
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10.1002/adfm.202316583
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2024031413043039087275
- Rights
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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14.08.2025, 11:01 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Wang, Lin
- Chen, Han
- Chen, Mingfeng
- Long, Yinfeng
- Liu, Kai
- Loh, Kian Ping