A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor ; day:13 ; month:03 ; year:2024 ; extent:9
Advanced functional materials ; (13.03.2024) (gesamt 9)

Urheber
Wang, Lin
Chen, Han
Chen, Mingfeng
Long, Yinfeng
Liu, Kai
Loh, Kian Ping

DOI
10.1002/adfm.202316583
URN
urn:nbn:de:101:1-2024031413043039087275
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 11:01 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Wang, Lin
  • Chen, Han
  • Chen, Mingfeng
  • Long, Yinfeng
  • Liu, Kai
  • Loh, Kian Ping

Ähnliche Objekte (12)