A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
A Scanning Microwave Impedance Microscopy Study of α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor ; day:13 ; month:03 ; year:2024 ; extent:9
Advanced functional materials ; (13.03.2024) (gesamt 9)

Creator
Wang, Lin
Chen, Han
Chen, Mingfeng
Long, Yinfeng
Liu, Kai
Loh, Kian Ping

DOI
10.1002/adfm.202316583
URN
urn:nbn:de:101:1-2024031413043039087275
Rights
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 11:01 AM CEST

Data provider

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  • Liu, Kai
  • Loh, Kian Ping

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