A contribution to elucidate interfacial electric double layer structures and their effects on tribological phenomena using force microscopy

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Bochum, Ruhr-Universität Bochum, Dissertation, 2018

Schlagwort
Elektrische Doppelschicht
Rasterkraftmikroskopie
Anion
Glimmer
Tribologie
Physikalische Chemie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Bochum
(wer)
Ruhr-Universität Bochum
(wann)
2018
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Rohwerder, Michael
Valtiner, Markus
Fakultät für Maschinenbau

URN
urn:nbn:de:hbz:294-56258
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 11:01 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Hu, Qingyun
  • Rohwerder, Michael
  • Valtiner, Markus
  • Fakultät für Maschinenbau
  • Ruhr-Universität Bochum

Entstanden

  • 2018

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