Measuring crystal orientation from etched surfaces via directional reflectance microscopy
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1573-4803
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Measuring crystal orientation from etched surfaces via directional reflectance microscopy ; volume:55 ; number:25 ; day:5 ; month:5 ; year:2020 ; pages:11669-11678 ; date:9.2020
Journal of materials science ; 55, Heft 25 (5.5.2020), 11669-11678, 9.2020
- Urheber
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Wang, Xiaogang
Gao, Shubo
Jain, Ekta
Gaskey, Bernard
Seita, Matteo
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1007/s10853-020-04734-z
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2020080919211510626635
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 14.08.2025, 08:55 UTC
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Wang, Xiaogang
- Gao, Shubo
- Jain, Ekta
- Gaskey, Bernard
- Seita, Matteo
- SpringerLink (Online service)