Measuring crystal orientation from etched surfaces via directional reflectance microscopy

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1573-4803
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Measuring crystal orientation from etched surfaces via directional reflectance microscopy ; volume:55 ; number:25 ; day:5 ; month:5 ; year:2020 ; pages:11669-11678 ; date:9.2020
Journal of materials science ; 55, Heft 25 (5.5.2020), 11669-11678, 9.2020

Urheber
Wang, Xiaogang
Gao, Shubo
Jain, Ekta
Gaskey, Bernard
Seita, Matteo
Beteiligte Personen und Organisationen
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1007/s10853-020-04734-z
URN
urn:nbn:de:101:1-2020080919211510626635
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 08:55 UTC

Datenpartner

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Beteiligte

  • Wang, Xiaogang
  • Gao, Shubo
  • Jain, Ekta
  • Gaskey, Bernard
  • Seita, Matteo
  • SpringerLink (Online service)

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