Advanced Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
0387333258
Umfang
456 S.
Ausgabe
1. Ed.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
399 schw.-w. Ill.

Klassifikation
Physik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
New York, NY
(wer)
Springer New York
(wann)
2006
Beteiligte Personen und Organisationen
Zhou, Weilie
Wang, Zhong Lin

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:55 MESZ

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Beteiligte

  • Zhou, Weilie
  • Wang, Zhong Lin
  • Springer New York

Entstanden

  • 2006

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