Advanced Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
0387333258
Extent
456 S.
Edition
1. Ed.
Language
Englisch
Notes
399 schw.-w. Ill.

Classification
Physik

Event
Veröffentlichung
(where)
New York, NY
(who)
Springer New York
(when)
2006
Contributor
Zhou, Weilie
Wang, Zhong Lin

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Last update
11.03.2025, 12:08 PM CET

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  • Zhou, Weilie
  • Wang, Zhong Lin
  • Springer New York

Time of origin

  • 2006

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