Hochschulschrift

Investigation of nanometer scale charge carrier density variations with scattering-type scanning near-field microscopy in the THz regime

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Dresden, Technische Universität Dresden, Dissertation, 2019

Schlagwort
Halbleiter
Germanium
Graphen
Ladungsträger
Rastersondenmikroskopie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Dresden
(wer)
Technische Universität Dresden
(wann)
2020
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Eng, Lukas M.
Roskos, Hartmut

URN
urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-380782
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:44 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2020

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