Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1434-6052
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade ; volume:77 ; number:8 ; day:22 ; month:8 ; year:2017 ; pages:1-13 ; date:8.2017
The European physical journal / C. C, Particles and fields ; 77, Heft 8 (22.8.2017), 1-13, 8.2017
- Klassifikation
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Physik
- Urheber
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Adam, W.
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1140/epjc/s10052-017-5115-z
- URN
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urn:nbn:de:1111-201801015908
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:38 MESZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Adam, W.
- SpringerLink (Online service)