Hochschulschrift
Die Bedeutung elektromagnetischer Sonden für das EMV-SCAN-Verfahren
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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161 S. in getr. Zählung
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Hamburg, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1997
- Keyword
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Induktiver Sensor
Nahfeld
Feldstärkemessung
Scanner
Elektromagnetische Verträglichkeit
Geräteentwicklung
- Creator
- Table of contents
- Rights
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- Last update
- 11.06.2025, 2:28 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift