Hochschulschrift

Die Bedeutung elektromagnetischer Sonden für das EMV-SCAN-Verfahren

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
161 S. in getr. Zählung
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Hamburg, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1997

Keyword
Induktiver Sensor
Nahfeld
Feldstärkemessung
Scanner
Elektromagnetische Verträglichkeit
Geräteentwicklung

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Last update
11.06.2025, 2:28 PM CEST

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