Hochschulschrift
UHV-Kerr-Mikroskopie und STM an dünnen Eisen- und Nickelfilmen auf Cu(100)
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
131 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Berlin, Freie Univ., Diss., 1997
- Schlagwort
-
Kupfer
Kristallfläche
Eisen
Dünne Schicht
Magnetooptischer Kerr-Effekt
Rastertunnelmikroskopie
Kupfer
Kristallfläche
Nickel
Dünne Schicht
Magnetooptischer Kerr-Effekt
Rastertunnelmikroskopie
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
- 11.06.2025, 13:46 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
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