Hochschulschrift

Computational intelligence based testing for robust circuit design

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783832254353
3832254358
Maße
21 cm, 236 gr.
Umfang
139 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2006

Erschienen in
Selected topics of electronics and micromechatronics ; Vol. 22

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Entwurfsautomation
Built-in self test
Soft Computing
Schaltungsanalyse
Verifikation
Robustheit

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Aachen
(wer)
Shaker
(wann)
2006
Urheber
Liau, Chee Hong Eric

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:58 MESZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Liau, Chee Hong Eric
  • Shaker

Entstanden

  • 2006

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