Hochschulschrift
Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Dissertation, 2000
- Erschienen in
-
Wissenschaftliche Berichte. FZKA ; 6503
- Schlagwort
-
Tribologie
Siliciumcarbid
Rasterkraftmikroskopie
Oberflächeneigenschaft
Hochleistungskeramik
Reibpaarung
Modifizierung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Karlsruhe
- (wer)
-
KIT-Bibliothek
- (wann)
-
2000
- Urheber
-
Pöhlmann, Klaus
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Zum Gahr, K. H.
- DOI
-
10.5445/IR/5422000
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2023071409422678195317
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:44 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Pöhlmann, Klaus
- Zum Gahr, K. H.
- KIT-Bibliothek
Entstanden
- 2000
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